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Scanning Probes
扫描式测头
扫描测头每秒能够采集几百个表面点,可以测量轮廓、尺寸和位置。 扫描测头也可用于采集离散点。
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SP25M
SP25M
SP25M是世界上最小型的多用途扫描测头系统。

SP25M由两个传感器组成,包含在一个外壳中。用户可从五个扫描模块(可安装长度从20 mm至400 mm的M3测针)中任意选择一个,与转接模块(与雷尼绍的TP20系列测头模块兼容)进行切换。这一功能可实现在单个测头系统中进行扫描和触发测量。

SP25M小巧的尺寸和自动吸附安装功能使之与PH10M PLUS / PH10MQ PLUS和PH6M测座兼容。它还可安装在自动吸附的多芯加长杆上。同时,这些组合具有极佳的测触能力,便于检测各种零件特征。
SP80
SP80
SP80轴套式安装扫描测头采用数字刻度和读数头技术,加上创新的分离光学测量原理,即使配用长测针也能够提供卓越的扫描性能。

通过搭配长达1000 mm,重500 g的测针(包括不受平衡影响的星形配置),SP80可以测触工件较深部位。雷尼绍的M5测针用于配合SP80使用,以确保其达到最佳性能。

系统主要优点:
- 使用能提供0.02 μm分辨率的数字读数头,实现超高精度扫描
- 可配用长达1000 mm,重500 g(不平衡)的大直径/偏重测针
- 由于测头内的低悬浮质量,可实现快速动态响应
- 可重复测针交换,方便快速、灵活检测工件